Shi D., Park C., Kim Y.-C., Song K.-J., Moon S.-H., Yoo S.-I., Ha H.-S., Ko R.-K., Kim H.-S., Chung J.-K.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, PLD process, buffer layers, RABITS process, substrate Ni-W, texture, films epitaxial, fabrication
Ключевые слова: HTS, Bi2223/Ag, tapes multifilamentary, ac losses, numerical analysis, experimental results
Kim H.J., Song K.J., Joo J.-H., Kim S.-W.(swkim@keri.re.kr), Hong J.-P.
Ключевые слова: measurement technique, HTS, tapes, ac losses, critical current, design, critical caracteristics
Ключевые слова: HTS, Bi2223, tapes multifilamentary, microstructure, PIT process, fabrication
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.